試料作製プロトコル

ＴＥＭ
０．０．支持膜の作成

１．そのままの形を観察する
１．１．ネガティブ染色法
１．２．１．シャドウ法１（一方向）
１．２．２．シャドウ法２（回転シャドウ）
１．３．常温レプリカ（プラスチックレプリカ）
１．３．１．一段レプリカ
１．３．２．二段レプリカ
１．４．凍結レプリカ
１．４．１．凍結破断レプリカ
１．４．２．凍結エッチングレプリカ

２．試料内部構造を観察する
２．１．１．超薄切片法
２．１．２．凍結技法

３．付加的な装置を取り付け特殊な観察を行う方法。
３．１．１．非分散型Ｘ-線分析装置
３．１．２．エネルギー分光装置
３．１．３．クライオ試料ホルダーによる方法

ＳＥＭ
１．試料の表面微細構造を観察する
１．１．二次電子による表面観察
１．２．反射電子による表面観察
１．３．Ｎ－ＳＥＭ
１．４．ＥーＳＥＭ

２．付属装置による方法
２．１．分散型Ｘ-線分析装置
２．２．非分散型Ｘ-線分析装置

凍結技法
１．試料を急速凍結することで科学的な組織変化をすることなく処理する方法
１．１．ガラス状の氷中に包埋し観察
１．２．凍結割断レプリカ
１．３．凍結破断エッチングレプリカ
１．４．圧着凍結法
１．５．加圧凍結固定
１．６．凍結超ミクロトーム切片法